Die Erweiterung von EyeVision um die Heliotis H8/H8M Weißlicht-Interferometer-Sensoren ermöglicht submikrometergenaue 3D-Höhenmessung und hochdynamische Oberflächenprofilierung. In der einheitlichen Benutzeroberfläche lassen sich 3D-Höhendaten, 2D-Bildanalysen, KI-basierte Erkennung und Code-Lese-Funktionen parallel auswerten. Dichte 3D-Punktwolken und präzise Höhenkarten bieten umfassende Analyseoptionen. Die hardwareunabhängige Plattform kombiniert mit einem visuell steuerbaren Drag-and-Drop-Workflow-Editor garantiert schnelle Inbetriebnahme, hohe Messgenauigkeit und robuste Automatisierung im Fertigungsumfeld. Prozessparameter lassen sich erfassen, Abläufe standardisieren, Toleranzabweichungen minimieren, Qualität steigern und Stillstandszeiten reduzieren. deutlich.
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Hochpräzise H8/H8M Höhendaten fließen nahtlos in EyeVision Analyse-Tools intuitiv
Mit der neuen Schnittstelle zwischen Heliotis H8/H8M-Sensoren und EyeVision können Anwender submikrometergenaue Höhenprofile direkt importieren und zusammen mit 2D-, 3D-, KI- sowie Code-Lese-Tools in einer zentralen Plattform analysieren. Die Integration in die bewährte EyeVision-Benutzeroberfläche ermöglicht konsistente Workflows für Oberflächeninspektionen, Planaritätsprüfungen und automatisierte Qualitätskontrollen, während dichte 3D-Punktwolken und Höhenkarten nahtlos bereitgestellt werden. Dies beschleunigt Entwicklungszyklen, minimiert Fehlerquellen und steigert Prozessstabilität. Gleichzeitig bleiben alle vorhandenen 2D-, 3D-, KI- und Code-Lese-Funktionen erhalten.
Präzise WLI-Höhenmessung deckt submikrometergenaue Planaritäts- und Rauheitsabweichungen zuverlässig auf
Hochpräzise Höhendaten im Submikrometerbereich macht der H8-Sensor möglich, indem er mittels Weißlichtinterferenz kleinste Profilabweichungen erfasst. Die gewonnenen submikrometergenauen Messdaten sind optimale Grundlage für detaillierte Planaritätsprüfungen und grenzgenaue Oberflächenanalysen. Sie ermöglichen eine verlässliche Detektion von Mikrorissen und Rauheitsschwankungen, was besonders in der Mikrooptik und Halbleiterproduktion entscheidend ist. Dank dieser Genauigkeit lassen sich Fertigungsprozesse gezielt anpassen und Qualitätssicherung konsequent fortführen. Zusätzlich unterstützt die Datenintegration in Auswertesoftware eine nahtlose Visualisierung und langfristige Trendanalyse.
Wiederholbare WLI-Messungen mit H8 Sensor steigern Prozessoptimierung und Qualität
Mit H8´s hochdynamischer Weißlichtinterferenz lassen sich Oberflächen mikroskopisch detailliert profilieren, sodass selbst Unebenheiten im Nanometerbereich zuverlässig erkannt werden. Die rekonstruierte Topografie ist reproduzierbar und bietet belastbare Werte für präzise Prozesskontrolle. Echtzeit-Analysen unterstützen schnelle Entscheidungen in automatisierten Anlagen. Die Methode optimiert Fertigungsqualität und minimiert Ausschüsse durch frühzeitige Fehlererkennung. Ein integriertes Datenmanagement ermöglicht konsistente Berichterstattung und vereinfacht Audits sowie Rückverfolgung in komplexen Produktionsumgebungen unter Berücksichtigung variabler Materialeigenschaften und Schichtstärken direkt im Inline-Betrieb.
Sofort einsatzbereite 3D-Analysefunktionen in EyeVision für umfassendes präzises Qualitätsmanagement
EyeVision erlaubt die direkte Übernahme von 3D-Punktwolken und exakten Höhenkarten in die integrierten Analysemodule. Ohne Zwischenschritte stehen umfassende Messfunktionen für Flächen- und Volumenberechnungen sofort offen. Die Software erkennt Kantenkonstruktionen automatisch und liefert präzise Konturdaten. Profilvergleichstools ermöglichen den Abgleich verschiedenartiger Datensätze, um Toleranzabweichungen schnell aufzudecken. Dieses nahtlose Zusammenspiel der Komponenten optimiert Prüfprozesse, reduziert manuelle Eingriffe und garantiert konsistente Ergebnisse in Echtzeit. Verfahren werden verschlankt und Durchlaufzeiten verringert, Aufwand und Kosten sinken.
Open Hardware-Architektur von EyeVision integriert vielfältige Sensor- und Kameratypen
Mit einer durchgängigen, hardwareunabhängigen Softwarearchitektur positioniert sich EyeVision als zukunftssichere Lösung für industrielle Bildverarbeitung. Es lassen sich hochpräzise Heliotis H8/H8M Weißlicht-Interferometer integrieren, um submikrometerfeine Oberflächenstrukturen zu analysieren. Ergänzend können Zeilenkameras, 2D-, Wärmebild- und Hyperspektralkameras konfiguriert werden. Smart-Kameras ermöglichen KI-basierten Auswertungen direkt vor Ort. Offene Standards und regelmäßige Updates garantieren langfristige Investitionssicherheit und vereinfachen die Integration neuer Sensortechnologien. Modulare Plattform erlaubt individuelle Workflow-Anpassungen, parallele Sensorfusion, automatisierte Kalibrierung und steigert Effizienz deutlich.
Messketten per Drag-and-Drop im Workflow-Editor mit Oberflächen- und Punktwolkentools
Der Workflow-Editor erlaubt intuitive Drag-and-Drop-Konfiguration komplexer Messnetzwerke. Anwender platzieren Module für Messtechnik, Fehlerdetektion, Oberflächenprofilierungen und 3D-Punktwolken-Auswertung frei auf der Arbeitsfläche. Verbindungen symbolisieren den Datenfluss und schaffen vollständige Transparenz über jeden Verarbeitungsschritt. Parameter lassen sich per Mausklick justieren, während Echtzeit-Validierung Fehlkonfigurationen verhindert. Wiederverwendbare Sub-Workflows optimieren Routineaufgaben, und vordefinierte Skripte ermöglichen den Einstieg ohne großen Schulungsaufwand. So werden Prüfverfahren konsistent und reproduzierbar. Die flexible Struktur unterstützt verschiedenste Sensoren und steigert messbar Effizienz.
Universelle EyeVision-Lösung für Embedded- und PC-Architekturen unter Windows Linux
Geringe Integrationszeit und hohe Anpassungsfähigkeit zeichnen EyeVision aus. Die Software lässt sich schnell auf unterschiedlichen Hardwareplattformen installieren, von Embedded-Controllern bis zu Desktop- und Serverlösungen unter Windows und Linux. Über vorkonfigurierte Module und offene APIs erfolgt die Anbindung an Kameras, I/O-Systeme und Robotersteuerungen ohne zusätzlichen Programmieraufwand. Skalierung und Updates können parallel zum Betrieb eingespielt werden. Somit behält die Anwendung selbst bei steigenden Anforderungen stets Performance und Zuverlässigkeit bei. Dies geschieht ressourcenschonend.
Dichte 3D-Punktwolken und Höhenkarten komplett integriert in EyeVision Oberfläche
EyeVision nutzt ab sofort Heliotis H8/H8M Weißlichtinterferometer für submikrometergenaue Höhenmessungen und erzeugt dichte 3D-Punktwolken für tiefgehende Oberflächenanalysen. Die Software kombiniert bewährte 2D-Erkennung, 3D-Analyse, KI-basierte Fehlerdetektion und Code-Lesefunktionen in einer einheitlichen, hardwareunabhängigen Plattform. Mit dem visuellen Drag-and-Drop-Workflow-Editor lassen sich Prüfketten individuell anpassen. Anwender profitieren von reproduzierbaren Profilen, effizienter Qualitätskontrolle und skalierbarer Automatisierung anspruchsvoller Fertigungsprozesse unter Windows und Linux. Die schnelle Inbetriebnahme unterstützt Embedded- und PC-Systeme für maximale Flexibilität.
